Oberflächenprofilometer für präzises Oberflächenanalysewerkzeug

Einleitung

The surface profilometer plays a critical role in modern industrial quality assurance by delivering fast, repeatable, and highly accurate surface measurements. Compared with traditional manual inspection methods, it significantly improves measurement efficiency, reduces operator error, and ensures consistent data output for production evaluation. This system is commonly applied in semiconductor manufacturing, automotive engineering, Luft- und Raumfahrtkomponenten, and precision machining industries where strict surface quality standards are required.

Hauptmerkmale

Stabile Leistung: Consistent and reliable operation.
Fast Transmission: Quick data transmission for efficiency.
Automatic Calibration: Ensures precise measurements with minimal effort.
Accurate Measurement: Provides high-accuracy results for critical measurements.
Rapid Response: Fast response time for efficient analysis.
Real-Time Monitoring: Monitors measurements and displays results in real time.

Roughness Profilometer - Technische Spezifikationen

Contour Measurement Functions:

Abmessungen: Horizontal distance, vertical distance, linear distance, radius, and diameter.
Angles: Horizontal angle, vertical angle, and included angle.
Positional Tolerances: Parallelism and perpendicularity.
Form Tolerances: Geradlinigkeit, convexity, and arc profile tolerances.
Auxiliary Generation: Auxiliary points, auxiliary lines, and auxiliary circles.

Cryptogram Analysis:

Ra, Rammax, Ramin, Rasd, Rp, Rpmax, Rpmin, Rpsd, Rv, Rvmax, Rvmin, Rvsd, Rz, Rzmax, Rzmin, Rzsd, R3z, Rc, Rcmax, Rcmin, Rcsd, Rt, Rq, Rqmax, Rqmin, Rdsd, Rsk, Rskmax, Rsmin, Rsksd, Rku, Rkumax, Rkumin, Rkusd, Rsm, Rsmmax, Rsmmin, Rsmsd, Rs, R△a, R△amax, R△amin, R△asd, R△q, R△qmax, R△qmin, R△qsd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Rλa, Rλamax, Rλamin, Rλasd, Rλq, Rλqmax, Rλqmin, Rλqsd, Rδc, Rpc, Rmr

Waviness Analysis:

Wa, Wamax, Wamin, Wasd, Wsa, Wca, Wa08, Wc, Wcmax, Wcmin, Wcsd, Wt, Wz, Wzmax, Wzmin, Wzsd, Wp, Wpmax, Wpmin, Wpsd, Wv, Wvmax, Wvmin, Wcsd, Wq, Wqmax, Wqmin, Wqsd, Wsm, Wsmmax, Wsmmin, Wsmsd, Wsk, Wskmax, Wskmin, Wsksd, Wku, Wkumax, Wkumin, Wkusd, W△q, W△qmax, W△qmin, W△qsd, Wδc, Wmr

Original Contour Analysis:

Pa, Pt, Pp, Pc, Pv, Pz, Pq, Psm, Psk, Pku, RzJ, Rpq, Rvq, Rmq, Pmr, P△q, Avh, Hmax, Hmin, Gebiet, Pδc, Tilta

Geräteparameter

Messbereich	X-Richtungs-Treiber		130 mm
	Z1	Profilmessbereich	40mm
	Z1	Rauheitsmessbereich	±1500μm
	Z1	Resolution 0.02 micrometers
	Z-axis height (column)		550mm
	Minimal detektierbares inneres Loch		10mm
Kontur-Technische Parameter	Linearität		±（0.7+\|0.12H\|）μm
	Zirkularität		±(1,2 R/12)μm
	Winkel		±1′
	Geradlinigkeit		00,5μm/100 mm
Technische Rauheitsparameter	Linearitätsgenauigkeit		≤±5 %
	Restrauschen		≤0.005μm
	Wiederholbarkeitsstabilität		Testwert 3 %
	Cutoff-Wellenlänge		0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm
	Bewertungslänge		λcX1, 2, 3, 4, 5
Sensor	Typ		USA
	Auflösung		0.02μm
	Ursprung		USA
Aufstiegswinkel			77 degrees ascent, 88 degrees descent

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